1995 | Conference Paper | Published | PUB-ID: 2619283
Jankowski, Markus, Breckle, Siegmar-Walter, Posch, Stefan, Sagerer, Gerhard, and Veste, Maik. “Automatische Detektion von Wurzelsystemen in Minirhizotron-Bildern”. Mustererkennung 1995: Verstehen akustischer und visueller Informationen. Ed. Gerhard Sagerer, Stefan Posch, Franz Kummert, Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung, and Österreichische Computer Gesellschaft. Arbeitskreis für Mustererkennung. Berlin: Springer-Verlag, 1995. Informatik aktuell. 176-185.
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