Automatische Detektion von Wurzelsystemen in Minirhizotron-Bildern

Jankowski M, Breckle S-W, Posch S, Sagerer G, Veste M (1995)
In: Mustererkennung 1995: Verstehen akustischer und visueller Informationen. Sagerer G, Posch S, Kummert F, Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung, Österreichische Computer Gesellschaft. Arbeitskreis für Mustererkennung (Eds); Informatik aktuell. Berlin: Springer-Verlag: 176-185.

Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | Deutsch
 
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Autor*in
Jankowski, Markus; Breckle, Siegmar-WalterUniBi; Posch, Stefan; Sagerer, GerhardUniBi; Veste, Maik
Herausgeber*in
Sagerer, Gerhard; Posch, Stefan; Kummert, Franz
herausgebende Körperschaft
Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung; Österreichische Computer Gesellschaft. Arbeitskreis für Mustererkennung
Erscheinungsjahr
1995
Titel des Konferenzbandes
Mustererkennung 1995: Verstehen akustischer und visueller Informationen
Serien- oder Zeitschriftentitel
Informatik aktuell
Seite(n)
176-185
ISBN
978-3-540-60293-4
Page URI
https://pub.uni-bielefeld.de/record/2619283

Zitieren

Jankowski M, Breckle S-W, Posch S, Sagerer G, Veste M. Automatische Detektion von Wurzelsystemen in Minirhizotron-Bildern. In: Sagerer G, Posch S, Kummert F, Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung, Österreichische Computer Gesellschaft. Arbeitskreis für Mustererkennung, eds. Mustererkennung 1995: Verstehen akustischer und visueller Informationen. Informatik aktuell. Berlin: Springer-Verlag; 1995: 176-185.
Jankowski, M., Breckle, S. - W., Posch, S., Sagerer, G., & Veste, M. (1995). Automatische Detektion von Wurzelsystemen in Minirhizotron-Bildern. In G. Sagerer, S. Posch, F. Kummert, Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung, & Österreichische Computer Gesellschaft. Arbeitskreis für Mustererkennung (Eds.), Informatik aktuell. Mustererkennung 1995: Verstehen akustischer und visueller Informationen (pp. 176-185). Berlin: Springer-Verlag.
Jankowski, Markus, Breckle, Siegmar-Walter, Posch, Stefan, Sagerer, Gerhard, and Veste, Maik. 1995. “Automatische Detektion von Wurzelsystemen in Minirhizotron-Bildern”. In Mustererkennung 1995: Verstehen akustischer und visueller Informationen, ed. Gerhard Sagerer, Stefan Posch, Franz Kummert, Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung, and Österreichische Computer Gesellschaft. Arbeitskreis für Mustererkennung, 176-185. Informatik aktuell. Berlin: Springer-Verlag.
Jankowski, M., Breckle, S. - W., Posch, S., Sagerer, G., and Veste, M. (1995). “Automatische Detektion von Wurzelsystemen in Minirhizotron-Bildern” in Mustererkennung 1995: Verstehen akustischer und visueller Informationen, Sagerer, G., Posch, S., Kummert, F., Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung, and Österreichische Computer Gesellschaft. Arbeitskreis für Mustererkennung eds. Informatik aktuell (Berlin: Springer-Verlag), 176-185.
Jankowski, M., et al., 1995. Automatische Detektion von Wurzelsystemen in Minirhizotron-Bildern. In G. Sagerer, et al., eds. Mustererkennung 1995: Verstehen akustischer und visueller Informationen. Informatik aktuell. Berlin: Springer-Verlag, pp. 176-185.
M. Jankowski, et al., “Automatische Detektion von Wurzelsystemen in Minirhizotron-Bildern”, Mustererkennung 1995: Verstehen akustischer und visueller Informationen, G. Sagerer, et al., eds., Informatik aktuell, Berlin: Springer-Verlag, 1995, pp.176-185.
Jankowski, M., Breckle, S.-W., Posch, S., Sagerer, G., Veste, M.: Automatische Detektion von Wurzelsystemen in Minirhizotron-Bildern. In: Sagerer, G., Posch, S., Kummert, F., Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung, and Österreichische Computer Gesellschaft. Arbeitskreis für Mustererkennung (eds.) Mustererkennung 1995: Verstehen akustischer und visueller Informationen. Informatik aktuell. p. 176-185. Springer-Verlag, Berlin (1995).
Jankowski, Markus, Breckle, Siegmar-Walter, Posch, Stefan, Sagerer, Gerhard, and Veste, Maik. “Automatische Detektion von Wurzelsystemen in Minirhizotron-Bildern”. Mustererkennung 1995: Verstehen akustischer und visueller Informationen. Ed. Gerhard Sagerer, Stefan Posch, Franz Kummert, Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung, and Österreichische Computer Gesellschaft. Arbeitskreis für Mustererkennung. Berlin: Springer-Verlag, 1995. Informatik aktuell. 176-185.
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