Aperiodic nanometer multilayer systems as optical key components for attosecond electron spectroscopy
Wonisch A, Westerwalbesloh T, Hachmann W, Kabachnik NM, Kleineberg U, Heinzmann U (2004)
Thin Solid Films 464-465 464-465: 473-477.
Zeitschriftenaufsatz
| Veröffentlicht | Englisch
Download
Es wurden keine Dateien hochgeladen. Nur Publikationsnachweis!
Autor*in
Wonisch, Andreas;
Westerwalbesloh, Thomas;
Hachmann, WiebkeUniBi;
Kabachnik, Nikolay M.UniBi;
Kleineberg, Ulf;
Heinzmann, UlrichUniBi
Erscheinungsjahr
2004
Zeitschriftentitel
Thin Solid Films 464-465
Band
464-465
Seite(n)
473-477
ISSN
0040-6090
Page URI
https://pub.uni-bielefeld.de/record/1876164
Zitieren
Wonisch A, Westerwalbesloh T, Hachmann W, Kabachnik NM, Kleineberg U, Heinzmann U. Aperiodic nanometer multilayer systems as optical key components for attosecond electron spectroscopy. Thin Solid Films 464-465. 2004;464-465:473-477.
Wonisch, A., Westerwalbesloh, T., Hachmann, W., Kabachnik, N. M., Kleineberg, U., & Heinzmann, U. (2004). Aperiodic nanometer multilayer systems as optical key components for attosecond electron spectroscopy. Thin Solid Films 464-465, 464-465, 473-477. https://doi.org/10.1016/j.tsf.2004.06.040
Wonisch, Andreas, Westerwalbesloh, Thomas, Hachmann, Wiebke, Kabachnik, Nikolay M., Kleineberg, Ulf, and Heinzmann, Ulrich. 2004. “Aperiodic nanometer multilayer systems as optical key components for attosecond electron spectroscopy”. Thin Solid Films 464-465 464-465: 473-477.
Wonisch, A., Westerwalbesloh, T., Hachmann, W., Kabachnik, N. M., Kleineberg, U., and Heinzmann, U. (2004). Aperiodic nanometer multilayer systems as optical key components for attosecond electron spectroscopy. Thin Solid Films 464-465 464-465, 473-477.
Wonisch, A., et al., 2004. Aperiodic nanometer multilayer systems as optical key components for attosecond electron spectroscopy. Thin Solid Films 464-465, 464-465, p 473-477.
A. Wonisch, et al., “Aperiodic nanometer multilayer systems as optical key components for attosecond electron spectroscopy”, Thin Solid Films 464-465, vol. 464-465, 2004, pp. 473-477.
Wonisch, A., Westerwalbesloh, T., Hachmann, W., Kabachnik, N.M., Kleineberg, U., Heinzmann, U.: Aperiodic nanometer multilayer systems as optical key components for attosecond electron spectroscopy. Thin Solid Films 464-465. 464-465, 473-477 (2004).
Wonisch, Andreas, Westerwalbesloh, Thomas, Hachmann, Wiebke, Kabachnik, Nikolay M., Kleineberg, Ulf, and Heinzmann, Ulrich. “Aperiodic nanometer multilayer systems as optical key components for attosecond electron spectroscopy”. Thin Solid Films 464-465 464-465 (2004): 473-477.
Export
Markieren/ Markierung löschen
Markierte Publikationen
Web of Science
Dieser Datensatz im Web of Science®Suchen in
Google Scholar