12 Publikationen

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[12]
2021 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2957056
Anomalous bulk diffusion of methylene diphenyl diisocyanate in silicone elastomer
Wortmann M, Viertel K, Welle A, Keil W, Frese N, Hachmann W, Krieger P, Brikmann J, Schmidt C, Moritzer E, Huesgen B (2021)
International Journal of Heat and Mass Transfer 177: 121536.
PUB | DOI | WoS
 
[11]
2009 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1634014
Preparation and characterization of gold nanocrystals on NaCl(100) surfaces as labels for the dynamical x-ray tracking technique
Slieh J, Winter A, Gryzia A, Brechling A, Hachmann W, Jacob S, Kandlbinder A, Dietz K-J, Kleineberg U, Heinzmann U (2009)
Thin Solid Films 517(11): 3257-3261.
PUB | DOI | WoS
 
[10]
2008 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2315310
Single Beam Optical Tweezers Setup with Backscattered Light Detection for 3D Measurements on DNA and Nanopores
Sischka A, Kleimann C, Hachmann W, Schäfer MM, Seuffert I, Tönsing K, Anselmetti D (2008)
Review of Scientific Instruments 79(6): 063702.
PUB | DOI | WoS | PubMed | Europe PMC
 
[9]
2006 | Sammelwerksbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1874432
Plasma Assisted Deposition of Tungsten Oxide / Silicon Oxide Multilayer Films with Sub-Nanometer Single Layers
Wonisch A, Hamelmann F, Hachmann W, Heinzmann U (2006)
In: Functional Properties of Nanostructured Materials. Kassing R, Petkov P, Kulisch W, Popov C (Eds); Dordrecht: Springer: 351-354.
PUB | DOI
 
[8]
2005 | Sammelwerksbeitrag | PUB-ID: 1874434
Plasma enhanced MOCVD of transition metal oxide thin films with a thickness between some hundred and less than one nanometer for optical applications
Ivanova T, Gesheva K, Hamelmann F, Hachmann W, Heinzmann U, Brechling A (2005)
In: ECS Proceedings; PV 2005-09. 433-433.
PUB
 
[7]
2004 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1876164
Aperiodic nanometer multilayer systems as optical key components for attosecond electron spectroscopy
Wonisch A, Westerwalbesloh T, Hachmann W, Kabachnik NM, Kleineberg U, Heinzmann U (2004)
Thin Solid Films 464-465 464-465: 473-477.
PUB | DOI | WoS
 
[6]
2004 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1606660
New magnetic nanoparticles for biotechnology
Hütten A, Sudfeld D, Ennen I, Reiss G, Hachmann W, Heinzmann U, Wojczykowski K, Jutzi P, Saikaly W, Thomas G (2004)
JOURNAL OF BIOTECHNOLOGY 112(1-2): 47-63.
PUB | DOI | WoS | PubMed | Europe PMC
 
[5]
2003 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1875368
Analysis of Monodispersed FeCo Nanoparticles by High-Resolution Transmission Electron Microscopy
Sudfeld D, Ennen I, Hachmann W, Wojczykowski K, Jutzi P, Reiss G, Hütten A (2003)
Microscopy and Microanalysis 9(S03): 196-197.
PUB
 
[4]
2003 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1610694
Determination of layer-thickness fluctuations in Mo/Si multilayers by cross-sectional HR-TEM and X-ray diffraction
Aschentrup A, Hachmann W, Westerwalbesloh T, Lim YC, Kleineberg U, Heinzmann U (2003)
APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING 77(5): 607-611.
PUB | DOI | WoS
 
[3]
2003 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1611059
Effect of substrate roughness on Mo/Si multilayer optics for EUVL produced by UHV-e-beam evaporation and ion polishing
Kleineberg U, Westerwalbesloh T, Hachmann W, Heinzmann U, Tummler J, Scholze F, Ulm G, Mullender S (2003)
In: Thin Solid Films. THIN SOLID FILMS, 433(1-2). ELSEVIER SCIENCE SA: 230-236.
PUB | DOI | WoS
 
[2]
2003 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1611745
Tailoring magnetic nanocrystal superlattices by chemical engineering
Sudfeld D, Wojczykowski K, Hachmann W, Jutzi P, Reiss G, Hütten A (2003)
In: Journal of Applied Physics. Journal of Applied Physics, 93(10). AMER INST PHYSICS: 7328-7330.
PUB | DOI | WoS
 
[1]
2002 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1613339
Magnetic cobalt nanocrystals organized in patches and chains
Sudfeld D, Wojczykowski K, Hachmann W, Heitmann S, Rott K, Hempel T, Kammerer S, Jutzi P, Hütten A, Reiss G (2002)
In: IEEE Transactions on Magnetics. IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS, 38(5). IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC: 2601-2603.
PUB | DOI | WoS
 

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2021 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2957056
Anomalous bulk diffusion of methylene diphenyl diisocyanate in silicone elastomer
Wortmann M, Viertel K, Welle A, Keil W, Frese N, Hachmann W, Krieger P, Brikmann J, Schmidt C, Moritzer E, Huesgen B (2021)
International Journal of Heat and Mass Transfer 177: 121536.
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2009 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1634014
Preparation and characterization of gold nanocrystals on NaCl(100) surfaces as labels for the dynamical x-ray tracking technique
Slieh J, Winter A, Gryzia A, Brechling A, Hachmann W, Jacob S, Kandlbinder A, Dietz K-J, Kleineberg U, Heinzmann U (2009)
Thin Solid Films 517(11): 3257-3261.
PUB | DOI | WoS
 
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2008 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2315310
Single Beam Optical Tweezers Setup with Backscattered Light Detection for 3D Measurements on DNA and Nanopores
Sischka A, Kleimann C, Hachmann W, Schäfer MM, Seuffert I, Tönsing K, Anselmetti D (2008)
Review of Scientific Instruments 79(6): 063702.
PUB | DOI | WoS | PubMed | Europe PMC
 
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2006 | Sammelwerksbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1874432
Plasma Assisted Deposition of Tungsten Oxide / Silicon Oxide Multilayer Films with Sub-Nanometer Single Layers
Wonisch A, Hamelmann F, Hachmann W, Heinzmann U (2006)
In: Functional Properties of Nanostructured Materials. Kassing R, Petkov P, Kulisch W, Popov C (Eds); Dordrecht: Springer: 351-354.
PUB | DOI
 
[8]
2005 | Sammelwerksbeitrag | PUB-ID: 1874434
Plasma enhanced MOCVD of transition metal oxide thin films with a thickness between some hundred and less than one nanometer for optical applications
Ivanova T, Gesheva K, Hamelmann F, Hachmann W, Heinzmann U, Brechling A (2005)
In: ECS Proceedings; PV 2005-09. 433-433.
PUB
 
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2004 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1876164
Aperiodic nanometer multilayer systems as optical key components for attosecond electron spectroscopy
Wonisch A, Westerwalbesloh T, Hachmann W, Kabachnik NM, Kleineberg U, Heinzmann U (2004)
Thin Solid Films 464-465 464-465: 473-477.
PUB | DOI | WoS
 
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2004 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1606660
New magnetic nanoparticles for biotechnology
Hütten A, Sudfeld D, Ennen I, Reiss G, Hachmann W, Heinzmann U, Wojczykowski K, Jutzi P, Saikaly W, Thomas G (2004)
JOURNAL OF BIOTECHNOLOGY 112(1-2): 47-63.
PUB | DOI | WoS | PubMed | Europe PMC
 
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2003 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1875368
Analysis of Monodispersed FeCo Nanoparticles by High-Resolution Transmission Electron Microscopy
Sudfeld D, Ennen I, Hachmann W, Wojczykowski K, Jutzi P, Reiss G, Hütten A (2003)
Microscopy and Microanalysis 9(S03): 196-197.
PUB
 
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2003 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1610694
Determination of layer-thickness fluctuations in Mo/Si multilayers by cross-sectional HR-TEM and X-ray diffraction
Aschentrup A, Hachmann W, Westerwalbesloh T, Lim YC, Kleineberg U, Heinzmann U (2003)
APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING 77(5): 607-611.
PUB | DOI | WoS
 
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2003 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1611059
Effect of substrate roughness on Mo/Si multilayer optics for EUVL produced by UHV-e-beam evaporation and ion polishing
Kleineberg U, Westerwalbesloh T, Hachmann W, Heinzmann U, Tummler J, Scholze F, Ulm G, Mullender S (2003)
In: Thin Solid Films. THIN SOLID FILMS, 433(1-2). ELSEVIER SCIENCE SA: 230-236.
PUB | DOI | WoS
 
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2003 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1611745
Tailoring magnetic nanocrystal superlattices by chemical engineering
Sudfeld D, Wojczykowski K, Hachmann W, Jutzi P, Reiss G, Hütten A (2003)
In: Journal of Applied Physics. Journal of Applied Physics, 93(10). AMER INST PHYSICS: 7328-7330.
PUB | DOI | WoS
 
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2002 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1613339
Magnetic cobalt nanocrystals organized in patches and chains
Sudfeld D, Wojczykowski K, Hachmann W, Heitmann S, Rott K, Hempel T, Kammerer S, Jutzi P, Hütten A, Reiss G (2002)
In: IEEE Transactions on Magnetics. IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS, 38(5). IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC: 2601-2603.
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