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7 Publikationen

 
2002 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2913864
Understanding atom movement during lateral manipulation with the STM tip using a simple simulation method
Kühnle A, Meyer G, Hla SW, Rieder K-H (2002)
Surface Science 499(1): 15-23.
PUB | PDF | DOI | WoS
 
2000 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2913866 PUB | PDF | DOI | WoS
 
1993 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2356963
DEFORMATION-FREE TOPOGRAPHY FROM COMBINED SCANNING FORCE AND TUNNELING EXPERIMENTS
Anselmetti D, GERBER C, MICHEL B, WOLF H, GÜNTHERODT HJ, ROHRER H (1993)
EPL (Europhysics Letters) 23(6): 421-426.
PUB | DOI | WoS
 
1993 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2356938
Scanning Probe Microscopy for Industrial Applications: Selected Examples
DAMMER U, Anselmetti D, DREIER M, FROMMER J, FUNFSCHILLING J, GERTH G, GÜNTHERODT HJ, HAEFKE H, HIDBER HR, HOWALD L, HUG HJ, et al. (1993)
Scanning 15(5): 257-264.
PUB | DOI | WoS
 
1993 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1775386
Ultrahigh vacuum scanning-tunneling microscope for in situ studies of annealing and electromigration behavior of thin films
Reiss G, Levine LE, Smith DA (1993)
Journal of Vacuum Science and Technology, B: Microelectronics and Nanometer Structures 11(1): 108-111.
PUB | PDF | DOI | WoS
 
1990 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1775236
Scanning tunneling microscopy on rough surfaces: deconvolution of constant current images
Reiss G, Schneider F, Vancea J, Hoffmann H (1990)
Applied physics letters 57(9): 867-869.
PUB | PDF | DOI | WoS
 

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