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28 Publikationen

2005 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1605264
M. Wieland, C. Spielmann, U. Kleineberg, T. Westerwalbesloh, U. Heinzmann, and T. Wilhein, “Toward time-resolved soft X-ray microscopy using pulsed fs-high-harmonic radiation”, ULTRAMICROSCOPY, 2005, 102, 93-100.
PUB | DOI | WoS | PubMed | Europe PMC
 
2002 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2351827
T. Brammer, W. Reetz, N. Senoussaoui, O. Vetterl, O. Kluth, B. Rech, H. Stiebig, and H. Wagner, “Optical properties of silicon-based thin-film solar cells in substrate and superstrate configuration”, Solar Energy Materials and Solar Cells, 2002, 74, 469-478.
PUB | DOI | WoS
 
2002 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1611931
P. Arena, H. Cruse, and M. Frasca, “Cellular nonlinear network-based bio-inspired decentralized control of locomotion for hexapod robots”, Adaptive Behavior, 2002, 10, 97-111.
PUB | DOI | WoS
 
2001 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1616226
A. Anopchenko, M. Jergel, E. Majkova, S. Luby, V. Holy, A. Aschentrup, I. Kolina, Y. C. Lim, G. Haindl, U. Kleineberg, et al., “Effect of substrate heating and ion beam polishing on the interface quality in Mo/Si multilayers - X-ray comparative study”, PHYSICA B-CONDENSED MATTER, 2001, 305, 14-20.
PUB | DOI | WoS
 
1999 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2330830
A. Bouhelier, T. Huser, J. M. Freyland, H. J. Güntherodt, and D. W. Pohl, “Plasmon transmissivity and reflectivity of narrow grooves in a silver film”, Journal of Microscopy, 1999, 194, 571-573.
PUB | WoS | PubMed | Europe PMC
 
1999 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1622647
U. Kleineberg, D. Menke, F. Hamelmann, U. Heinzmann, O. Schmidt, G. H. Fecher, and G. Schoenhense, in Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, Elsevier Science Bv, 1999, p. 931-936.
PUB | DOI | WoS
 
1998 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1625020
M. Jergel, V. Holy, E. Majkova, S. Luby, R. Senderak, H. J. Stock, D. Menke, U. Kleineberg, and U. Heinzmann, “X-ray scattering study of interface roughness correlation in Mo/Si and Ti/C multilayers for X-UV optics”, PHYSICA B-CONDENSED MATTER, 1998, 253, 28-39.
PUB | DOI | WoS
 
1994 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1644091
B. SCHMIEDESKAMP, A. KLOIDT, H. J. STOCK, U. KLEINEBERG, T. DOHRING, M. PROPPER, S. RAHN, K. HILGERS, B. HEIDEMANN, T. TAPPE, et al., “ELECTRON-BEAM-DEPOSITED MO/SI AND MO(X)SI(Y)/SI MULTILAYER X-RAY MIRRORS AND GRATINGS”, OPTICAL ENGINEERING, 1994, 33, 1314-1321.
PUB | DOI | WoS
 

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