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34 Publikationen

2005 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2351765
K. H. Jun, E. Bunte, and H. Stiebig, “Optimization of phase-sensitive transparent detector for length measurements”, IEEE Transactions on Electron Devices, 2005, 52, 1656-1661.
PUB | DOI | WoS
 
2005 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1604354
F. Hamelmann, U. Heinzmann, A. Szekeres, N. Kirov, and T. Nikolova, “Deposition of silicon oxide thin films in TEOS with addition of oxygen to the plasma ambient: IR spectra analysis”, JOURNAL OF OPTOELECTRONICS AND ADVANCED MATERIALS, 2005, 7, 389-392.
PUB | WoS
 
2005 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1604360
F. Hamelmann, K. Gesheva, T. Ivanova, A. Szekeres, M. Abrashev, and U. Heinzmann, “Optical and electrochromic characterization of multilayered mixed metal oxide thin films”, JOURNAL OF OPTOELECTRONICS AND ADVANCED MATERIALS, 2005, 7, 393-396.
PUB | WoS
 
2004 | Bielefelder E-Dissertation | PUB-ID: 2304912
S. Kämmerer, The Heusler alloy Co2MnSi in thin films, Bielefeld University, Bielefeld (Germany), 2004.
PUB | PDF
 
2004 | Bielefelder E-Dissertation | PUB-ID: 2304635
S. Czerkas, Untersuchungen von dünnen Aluminiumoxid-Schichten, Bielefeld University, Bielefeld (Germany), 2004.
PUB | PDF
 
2004 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1606874
F. Hamelmann, A. Aschentrup, A. Brechling, U. Heinzmann, A. Gushterov, A. Szekeres, and S. Simeonov, “Plasma-assisted deposition of thin silicon oxide films in a remote PECVD reactor and characterization of films produced under different conditions”, Vacuum, 2004, 75, 307-312.
PUB | DOI | WoS
 
2000 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1618191
T. Lucinski, S. Czerkas, H. Brückl, and G. Reiss, “Growth and properties of Co/Al-O-x/Ni(80)Fe(20) trilayers monitored in-situ during deposition process”, JOURNAL OF MAGNETISM AND MAGNETIC MATERIALS, 2000, 222, 327-336.
PUB | DOI | WoS
 
2000 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1620783
D. G. Kurth, P. Lehmann, D. Volkmer, H. Colfen, M. J. Koop, A. Müller, and A. Du Chesne, “Surfactant-encapsulated clusters (SECs): (DODA)(20)(NH4)[H3Mo57V6(NO)(6)O-183(H2O)(18)], a case study”, CHEMISTRY-A EUROPEAN JOURNAL, 2000, 6, 385-393.
PUB | DOI | WoS | PubMed | Europe PMC
 
1999 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1621132
A. Hütten, S. Mrozek, S. Heitmann, T. Hempel, H. Brückl, and G. Reiss, “Evolution of the GMR-effect amplitude in copper/permalloy-multilayered thin films”, ACTA MATERIALIA, 1999, 47, 4245-4252.
PUB | DOI | WoS
 
1999 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 2000276
R. Von Klitzing, A. Espert, A. Asnacios, T. Hellweg, A. Colin, and D. Langevin, in Colloids and Surfaces A Physicochemical and Engineering Aspects, Elsevier, 1999, p. 131-140.
PUB | WoS
 
1998 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2353057
F. Matthes, H. Brückl, and G. Reiss, “Near-field magneto-optical microscopy in collection and illumination mode”, Ultramicroscopy, 1998, 71, 243-248.
PUB | DOI | WoS
 
1993 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1775386
G. Reiss, L. E. Levine, and D. A. Smith, “Ultrahigh vacuum scanning-tunneling microscope for in situ studies of annealing and electromigration behavior of thin films”, Journal of Vacuum Science and Technology, B: Microelectronics and Nanometer Structures, 1993, 11, 108-111.
PUB | PDF | DOI | WoS
 
1993 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1775421
L. E. Levine, G. Reiss, and D. A. Smith, “In situ scanning-tunneling-microscopy studies of current driven mass transport in Ag”, Journal of applied physics, 1993, 74, 5476-5482.
PUB | PDF | DOI | WoS
 
1991 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1775271
G. Reiss, H. Brückl, J. Vancea, R. Lecheler, and E. Hastreiter, “Scanning tunneling microscopy on rough surfaces: quantitative image analysis”, Journal of applied physics, 1991, 70, 523-525.
PUB | PDF | DOI | WoS
 

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