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34 Publikationen

2005 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2351765
Jun KH, Bunte E, Stiebig H. Optimization of phase-sensitive transparent detector for length measurements. IEEE Transactions on Electron Devices. 2005;52(7):1656-1661.
PUB | DOI | WoS
 
2005 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1604354
Hamelmann F, Heinzmann U, Szekeres A, Kirov N, Nikolova T. Deposition of silicon oxide thin films in TEOS with addition of oxygen to the plasma ambient: IR spectra analysis. JOURNAL OF OPTOELECTRONICS AND ADVANCED MATERIALS. 2005;7(1):389-392.
PUB | WoS
 
2005 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1604360
Hamelmann F, Gesheva K, Ivanova T, Szekeres A, Abrashev M, Heinzmann U. Optical and electrochromic characterization of multilayered mixed metal oxide thin films. JOURNAL OF OPTOELECTRONICS AND ADVANCED MATERIALS. 2005;7(1):393-396.
PUB | WoS
 
2004 | Bielefelder E-Dissertation | PUB-ID: 2304912
Kämmerer S. The Heusler alloy Co2MnSi in thin films. Bielefeld (Germany): Bielefeld University; 2004.
PUB | PDF
 
2004 | Bielefelder E-Dissertation | PUB-ID: 2304635
Czerkas S. Untersuchungen von dünnen Aluminiumoxid-Schichten. Bielefeld (Germany): Bielefeld University; 2004.
PUB | PDF
 
2004 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1606874
Hamelmann F, Aschentrup A, Brechling A, et al. Plasma-assisted deposition of thin silicon oxide films in a remote PECVD reactor and characterization of films produced under different conditions. Vacuum. 2004;75(4):307-312.
PUB | DOI | WoS
 
2000 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1618191
Lucinski T, Czerkas S, Brückl H, Reiss G. Growth and properties of Co/Al-O-x/Ni(80)Fe(20) trilayers monitored in-situ during deposition process. JOURNAL OF MAGNETISM AND MAGNETIC MATERIALS. 2000;222(3):327-336.
PUB | DOI | WoS
 
2000 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1620783
Kurth DG, Lehmann P, Volkmer D, et al. Surfactant-encapsulated clusters (SECs): (DODA)(20)(NH4)[H3Mo57V6(NO)(6)O-183(H2O)(18)], a case study. CHEMISTRY-A EUROPEAN JOURNAL. 2000;6(2):385-393.
PUB | DOI | WoS | PubMed | Europe PMC
 
1999 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1621132
Hütten A, Mrozek S, Heitmann S, Hempel T, Brückl H, Reiss G. Evolution of the GMR-effect amplitude in copper/permalloy-multilayered thin films. ACTA MATERIALIA. 1999;47(15-16):4245-4252.
PUB | DOI | WoS
 
1999 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 2000276
Von Klitzing R, Espert A, Asnacios A, Hellweg T, Colin A, Langevin D. Forces in foam films containing polyelectrolyte and surfactant. In: Colloids and Surfaces A Physicochemical and Engineering Aspects. Vol 149. Elsevier; 1999: 131-140.
PUB | WoS
 
1998 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2353057
Matthes F, Brückl H, Reiss G. Near-field magneto-optical microscopy in collection and illumination mode. Ultramicroscopy. 1998;71(1-4):243-248.
PUB | DOI | WoS
 
1993 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1775386
Reiss G, Levine LE, Smith DA. Ultrahigh vacuum scanning-tunneling microscope for in situ studies of annealing and electromigration behavior of thin films. Journal of Vacuum Science and Technology, B: Microelectronics and Nanometer Structures. 1993;11(1):108-111.
PUB | PDF | DOI | WoS
 
1993 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1775421
Levine LE, Reiss G, Smith DA. In situ scanning-tunneling-microscopy studies of current driven mass transport in Ag. Journal of applied physics. 1993;74(9):5476-5482.
PUB | PDF | DOI | WoS
 
1991 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1775271
Reiss G, Brückl H, Vancea J, Lecheler R, Hastreiter E. Scanning tunneling microscopy on rough surfaces: quantitative image analysis. Journal of applied physics. 1991;70(1):523-525.
PUB | PDF | DOI | WoS
 

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