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13 Publikationen

2019 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2937335
Böwering, N.; Meier, C. (2019): Sticking behavior and transformation of tin droplets on silicon wafers and multilayer-coated mirrors Applied Physics A,125:(9):633
PUB | DOI | WoS
 
2009 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2351649
Chan, K. - Y.; Hashem, E.; Gordijn, A.; Stiebig, H.; Knipp, D. (2009): Modelling of contact effects in microcrystalline silicon thin-film transistors Applied Physics A,96:(3): 751-758.
PUB | DOI | WoS
 
2008 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2351669
Haas, S.; Schoepe, G.; Zahren, C.; Stiebig, H. (2008): Analysis of the laser ablation processes for thin-film silicon solar cells Applied Physics A,92:(4): 755-759.
PUB | DOI | WoS
 
2007 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1593647
Schramm, S.; Dantscher, S.; Schramm, C.; Autzen, O.; Wesenberg, C.; Hasselbrink, E.; Pfeiffer, W. (2007): Photoinduced interface charging in multiphoton photoemission from ultrathin Ag films on Si(100) APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING,88:(3): 459-464.
PUB | DOI | WoS
 
2004 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2315863
Thon, A.; Klamroth, T.; Saalfrank, P.; Diesing, D.; Pfeiffer, W. (2004): Photon-assisted tunneling versus tunneling of excited electrons in metal-insulator-metal junctions Appl. Phys. A,78:(2): 189-199.
PUB | DOI | WoS
 
2004 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2407651
Pfeiffer, W.; Kennerknecht, C.; Merschdorf, M. (2004): Electron dynamics in supported metal nanoparticles: relaxation and charge transfer studied by time-resolved photoemission Applied Physics A,78:(7): 1011-1028.
PUB | DOI | WoS
 
2003 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1610694
Aschentrup, A.; Hachmann, W.; Westerwalbesloh, T.; Lim, Y. C.; Kleineberg, U.; Heinzmann, U. (2003): Determination of layer-thickness fluctuations in Mo/Si multilayers by cross-sectional HR-TEM and X-ray diffraction APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING,77:(5): 607-611.
PUB | DOI | WoS
 
2002 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1612342
Basler, R.; Chaboussant, G.; Andres, H.; Kögerler, P.; Krickemeyer, E.; Bögge, H.; Mutka, H.; Müller, A.; Gudel, H. U. (2002): Inelastic neutron scattering on a mixed-valence dodecanuclear polyoxovanadate cluster APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING,74: S734-S736.
PUB | DOI | WoS
 
2001 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1618213
Lim, Y. C.; Westermalbesloh, T.; Aschentrup, A.; Wehmeyer, O.; Haindl, G.; Kleineberg, U.; Heinzmann, U. (2001): Fabrication and characterization of EUV multilayer mirrors optimized for small spectral reflection bandwidth APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING,72:(1): 121-124.
PUB | DOI | WoS
 
2001 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1616180
Kleineberg, U.; Haindl, G.; Hütten, A.; Reiss, G.; Gullikson, E. M.; Jones, M. S.; Mrowka, S.; Rekawa, S. B.; Underwood, J. H. (2001): Microcharacterization of the surface oxidation of Py/Cu multilayers by scanning X-ray absorption spectromicroscopy APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING,73:(4): 515-519.
PUB | DOI | WoS
 
2000 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2407668
Merschdorf, M.; Pfeiffer, W.; Thon, A.; Voll, S.; Gerber, G. (2000): Photoemission from multiply excited surface plasmons in Ag nanoparticles Applied Physics A,71:(5): 547-552.
PUB | DOI | WoS
 
1998 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1624512
Hartwich, J.; Dreeskornfeld, L.; Heisig, V.; Rahn, S.; Wehmeyer, O.; Kleineberg, U.; Heinzmann, U. (1998): STM writing of artificial nanostructures in ultrathin PMMA and SAM resists and subsequent pattern transfer in a Mo/Si multilayer by reactive ion etching APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING,66: S685-S688.
PUB | DOI | WoS
 
1993 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2356988
LANG, H. P.; THOMMENGEISER, V.; BOLM, C.; FELDER, M.; FROMMER, J.; WIESENDANGER, R.; WERNER, H.; SCHLOGL, R.; ZAHAB, A.; BERNIER, P.; GERTH, G.; Anselmetti, D.; GÜNTHERODT, H. J. (1993): DETERMINATION OF C-60/C-70 RATIOS IN FULLERENE MIXTURES AND FILM CHARACTERIZATION BY SCANNING TUNNELING MICROSCOPY Applied Physics A,56:(3): 197-205.
PUB | DOI | WoS
 

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