Please note that PUB no longer supports Internet Explorer versions 8 or 9 (or earlier).

We recommend upgrading to the latest Internet Explorer, Google Chrome, or Firefox.

13 Publikationen

2019 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2937335
Böwering, N., Meier, C.: Sticking behavior and transformation of tin droplets on silicon wafers and multilayer-coated mirrors. Applied Physics A. 125, : 633 (2019).
PUB | DOI | WoS
 
2009 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2351649
Chan, K.-Y., Hashem, E., Gordijn, A., Stiebig, H., Knipp, D.: Modelling of contact effects in microcrystalline silicon thin-film transistors. Applied Physics A. 96, 751-758 (2009).
PUB | DOI | WoS
 
2008 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2351669
Haas, S., Schoepe, G., Zahren, C., Stiebig, H.: Analysis of the laser ablation processes for thin-film silicon solar cells. Applied Physics A. 92, 755-759 (2008).
PUB | DOI | WoS
 
2007 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1593647
Schramm, S., Dantscher, S., Schramm, C., Autzen, O., Wesenberg, C., Hasselbrink, E., Pfeiffer, W.: Photoinduced interface charging in multiphoton photoemission from ultrathin Ag films on Si(100). APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING. 88, 459-464 (2007).
PUB | DOI | WoS
 
2004 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2315863
Thon, A., Klamroth, T., Saalfrank, P., Diesing, D., Pfeiffer, W.: Photon-assisted tunneling versus tunneling of excited electrons in metal-insulator-metal junctions. Appl. Phys. A. 78, 189-199 (2004).
PUB | DOI | WoS
 
2004 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2407651
Pfeiffer, W., Kennerknecht, C., Merschdorf, M.: Electron dynamics in supported metal nanoparticles: relaxation and charge transfer studied by time-resolved photoemission. Applied Physics A. 78, 1011-1028 (2004).
PUB | DOI | WoS
 
2003 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1610694
Aschentrup, A., Hachmann, W., Westerwalbesloh, T., Lim, Y.C., Kleineberg, U., Heinzmann, U.: Determination of layer-thickness fluctuations in Mo/Si multilayers by cross-sectional HR-TEM and X-ray diffraction. APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING. 77, 607-611 (2003).
PUB | DOI | WoS
 
2002 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1612342
Basler, R., Chaboussant, G., Andres, H., Kögerler, P., Krickemeyer, E., Bögge, H., Mutka, H., Müller, A., Gudel, H.U.: Inelastic neutron scattering on a mixed-valence dodecanuclear polyoxovanadate cluster. APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING. 74, S734-S736 (2002).
PUB | DOI | WoS
 
2001 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1618213
Lim, Y.C., Westermalbesloh, T., Aschentrup, A., Wehmeyer, O., Haindl, G., Kleineberg, U., Heinzmann, U.: Fabrication and characterization of EUV multilayer mirrors optimized for small spectral reflection bandwidth. APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING. 72, 121-124 (2001).
PUB | DOI | WoS
 
2001 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1616180
Kleineberg, U., Haindl, G., Hütten, A., Reiss, G., Gullikson, E.M., Jones, M.S., Mrowka, S., Rekawa, S.B., Underwood, J.H.: Microcharacterization of the surface oxidation of Py/Cu multilayers by scanning X-ray absorption spectromicroscopy. APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING. 73, 515-519 (2001).
PUB | DOI | WoS
 
2000 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2407668
Merschdorf, M., Pfeiffer, W., Thon, A., Voll, S., Gerber, G.: Photoemission from multiply excited surface plasmons in Ag nanoparticles. Applied Physics A. 71, 547-552 (2000).
PUB | DOI | WoS
 
1998 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1624512
Hartwich, J., Dreeskornfeld, L., Heisig, V., Rahn, S., Wehmeyer, O., Kleineberg, U., Heinzmann, U.: STM writing of artificial nanostructures in ultrathin PMMA and SAM resists and subsequent pattern transfer in a Mo/Si multilayer by reactive ion etching. APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING. 66, S685-S688 (1998).
PUB | DOI | WoS
 
1993 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2356988
LANG, H.P., THOMMENGEISER, V., BOLM, C., FELDER, M., FROMMER, J., WIESENDANGER, R., WERNER, H., SCHLOGL, R., ZAHAB, A., BERNIER, P., GERTH, G., Anselmetti, D., GÜNTHERODT, H.J.: DETERMINATION OF C-60/C-70 RATIOS IN FULLERENE MIXTURES AND FILM CHARACTERIZATION BY SCANNING TUNNELING MICROSCOPY. Applied Physics A. 56, 197-205 (1993).
PUB | DOI | WoS
 

Filter und Suchbegriffe

issn=0947-8396

Suche

Publikationen filtern

Darstellung / Sortierung

Zitationsstil: lncs

Export / Einbettung