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12 Publikationen

2009 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2351649
Chan, K. - Y., Hashem, E., Gordijn, A., Stiebig, H., & Knipp, D. (2009). Modelling of contact effects in microcrystalline silicon thin-film transistors. Applied Physics A, 96(3), 751-758. doi:10.1007/s00339-009-5287-y
PUB | DOI | WoS
 
2008 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2351669
Haas, S., Schoepe, G., Zahren, C., & Stiebig, H. (2008). Analysis of the laser ablation processes for thin-film silicon solar cells. Applied Physics A, 92(4), 755-759. doi:10.1007/s00339-008-4560-9
PUB | DOI | WoS
 
2007 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1593647
Schramm, S., Dantscher, S., Schramm, C., Autzen, O., Wesenberg, C., Hasselbrink, E., & Pfeiffer, W. (2007). Photoinduced interface charging in multiphoton photoemission from ultrathin Ag films on Si(100). APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, 88(3), 459-464. doi:10.1007/s00339-007-4048-z
PUB | DOI | WoS
 
2004 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2315863
Thon, A., Klamroth, T., Saalfrank, P., Diesing, D., & Pfeiffer, W. (2004). Photon-assisted tunneling versus tunneling of excited electrons in metal-insulator-metal junctions. Appl. Phys. A, 78(2), 189-199. doi:10.1007/s00339-003-2314-2
PUB | DOI | WoS
 
2004 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2407651
Pfeiffer, W., Kennerknecht, C., & Merschdorf, M. (2004). Electron dynamics in supported metal nanoparticles: relaxation and charge transfer studied by time-resolved photoemission. Applied Physics A, 78(7), 1011-1028. doi:10.1007/s00339-003-2428-6
PUB | DOI | WoS
 
2003 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1610694
Aschentrup, A., Hachmann, W., Westerwalbesloh, T., Lim, Y. C., Kleineberg, U., & Heinzmann, U. (2003). Determination of layer-thickness fluctuations in Mo/Si multilayers by cross-sectional HR-TEM and X-ray diffraction. APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, 77(5), 607-611. doi:10.1007/s00339-003-2130-8
PUB | DOI | WoS
 
2002 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1612342
Basler, R., Chaboussant, G., Andres, H., Kögerler, P., Krickemeyer, E., Bögge, H., Mutka, H., et al. (2002). Inelastic neutron scattering on a mixed-valence dodecanuclear polyoxovanadate cluster. APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, 74, S734-S736. doi:10.1007/s003390201577
PUB | DOI | WoS
 
2001 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1618213
Lim, Y. C., Westermalbesloh, T., Aschentrup, A., Wehmeyer, O., Haindl, G., Kleineberg, U., & Heinzmann, U. (2001). Fabrication and characterization of EUV multilayer mirrors optimized for small spectral reflection bandwidth. APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, 72(1), 121-124. doi:10.1007/s003390000723
PUB | DOI | WoS
 
2001 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1616180
Kleineberg, U., Haindl, G., Hütten, A., Reiss, G., Gullikson, E. M., Jones, M. S., Mrowka, S., et al. (2001). Microcharacterization of the surface oxidation of Py/Cu multilayers by scanning X-ray absorption spectromicroscopy. APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, 73(4), 515-519. doi:10.1007/s003390100801
PUB | DOI | WoS
 
2000 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2407668
Merschdorf, M., Pfeiffer, W., Thon, A., Voll, S., & Gerber, G. (2000). Photoemission from multiply excited surface plasmons in Ag nanoparticles. Applied Physics A, 71(5), 547-552. doi:10.1007/s003390000712
PUB | DOI | WoS
 
1998 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1624512
Hartwich, J., Dreeskornfeld, L., Heisig, V., Rahn, S., Wehmeyer, O., Kleineberg, U., & Heinzmann, U. (1998). STM writing of artificial nanostructures in ultrathin PMMA and SAM resists and subsequent pattern transfer in a Mo/Si multilayer by reactive ion etching. APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, 66, S685-S688. doi:10.1007/s003390051222
PUB | DOI | WoS
 
1993 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2356988
LANG, H. P., THOMMENGEISER, V., BOLM, C., FELDER, M., FROMMER, J., WIESENDANGER, R., WERNER, H., et al. (1993). DETERMINATION OF C-60/C-70 RATIOS IN FULLERENE MIXTURES AND FILM CHARACTERIZATION BY SCANNING TUNNELING MICROSCOPY. Applied Physics A, 56(3), 197-205. doi:10.1007/BF00539474
PUB | DOI | WoS
 

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