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13 Publikationen

2019 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2937335
N. Böwering, and C. Meier, “Sticking behavior and transformation of tin droplets on silicon wafers and multilayer-coated mirrors”, Applied Physics A, 2019, 125, : 633.
PUB | DOI | WoS
 
2009 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2351649
K. - Y. Chan, E. Hashem, A. Gordijn, H. Stiebig, and D. Knipp, “Modelling of contact effects in microcrystalline silicon thin-film transistors”, Applied Physics A, 2009, 96, 751-758.
PUB | DOI | WoS
 
2008 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2351669
S. Haas, G. Schoepe, C. Zahren, and H. Stiebig, “Analysis of the laser ablation processes for thin-film silicon solar cells”, Applied Physics A, 2008, 92, 755-759.
PUB | DOI | WoS
 
2007 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1593647
S. Schramm, S. Dantscher, C. Schramm, O. Autzen, C. Wesenberg, E. Hasselbrink, and W. Pfeiffer, “Photoinduced interface charging in multiphoton photoemission from ultrathin Ag films on Si(100)”, APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, 2007, 88, 459-464.
PUB | DOI | WoS
 
2004 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2315863
A. Thon, T. Klamroth, P. Saalfrank, D. Diesing, and W. Pfeiffer, “Photon-assisted tunneling versus tunneling of excited electrons in metal-insulator-metal junctions”, Appl. Phys. A, 2004, 78, 189-199.
PUB | DOI | WoS
 
2004 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2407651
W. Pfeiffer, C. Kennerknecht, and M. Merschdorf, “Electron dynamics in supported metal nanoparticles: relaxation and charge transfer studied by time-resolved photoemission”, Applied Physics A, 2004, 78, 1011-1028.
PUB | DOI | WoS
 
2003 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1610694
A. Aschentrup, W. Hachmann, T. Westerwalbesloh, Y. C. Lim, U. Kleineberg, and U. Heinzmann, “Determination of layer-thickness fluctuations in Mo/Si multilayers by cross-sectional HR-TEM and X-ray diffraction”, APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, 2003, 77, 607-611.
PUB | DOI | WoS
 
2002 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1612342
R. Basler, G. Chaboussant, H. Andres, P. Kögerler, E. Krickemeyer, H. Bögge, H. Mutka, A. Müller, and H. U. Gudel, “Inelastic neutron scattering on a mixed-valence dodecanuclear polyoxovanadate cluster”, APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, 2002, 74, S734-S736.
PUB | DOI | WoS
 
2001 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1618213
Y. C. Lim, T. Westermalbesloh, A. Aschentrup, O. Wehmeyer, G. Haindl, U. Kleineberg, and U. Heinzmann, “Fabrication and characterization of EUV multilayer mirrors optimized for small spectral reflection bandwidth”, APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, 2001, 72, 121-124.
PUB | DOI | WoS
 
2001 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1616180
U. Kleineberg, G. Haindl, A. Hütten, G. Reiss, E. M. Gullikson, M. S. Jones, S. Mrowka, S. B. Rekawa, and J. H. Underwood, “Microcharacterization of the surface oxidation of Py/Cu multilayers by scanning X-ray absorption spectromicroscopy”, APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, 2001, 73, 515-519.
PUB | DOI | WoS
 
2000 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2407668
M. Merschdorf, W. Pfeiffer, A. Thon, S. Voll, and G. Gerber, “Photoemission from multiply excited surface plasmons in Ag nanoparticles”, Applied Physics A, 2000, 71, 547-552.
PUB | DOI | WoS
 
1998 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1624512
J. Hartwich, L. Dreeskornfeld, V. Heisig, S. Rahn, O. Wehmeyer, U. Kleineberg, and U. Heinzmann, “STM writing of artificial nanostructures in ultrathin PMMA and SAM resists and subsequent pattern transfer in a Mo/Si multilayer by reactive ion etching”, APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, 1998, 66, S685-S688.
PUB | DOI | WoS
 
1993 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2356988
H. P. LANG, V. THOMMENGEISER, C. BOLM, M. FELDER, J. FROMMER, R. WIESENDANGER, H. WERNER, R. SCHLOGL, A. ZAHAB, P. BERNIER, et al., “DETERMINATION OF C-60/C-70 RATIOS IN FULLERENE MIXTURES AND FILM CHARACTERIZATION BY SCANNING TUNNELING MICROSCOPY”, Applied Physics A, 1993, 56, 197-205.
PUB | DOI | WoS
 

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