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13 Publikationen

2019 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2937335
Böwering N, Meier C. Sticking behavior and transformation of tin droplets on silicon wafers and multilayer-coated mirrors. Applied Physics A. 2019;125(9): 633.
PUB | DOI | WoS
 
2009 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2351649
Chan K-Y, Hashem E, Gordijn A, Stiebig H, Knipp D. Modelling of contact effects in microcrystalline silicon thin-film transistors. Applied Physics A. 2009;96(3):751-758.
PUB | DOI | WoS
 
2008 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2351669
Haas S, Schoepe G, Zahren C, Stiebig H. Analysis of the laser ablation processes for thin-film silicon solar cells. Applied Physics A. 2008;92(4):755-759.
PUB | DOI | WoS
 
2007 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1593647
Schramm S, Dantscher S, Schramm C, et al. Photoinduced interface charging in multiphoton photoemission from ultrathin Ag films on Si(100). APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING. 2007;88(3):459-464.
PUB | DOI | WoS
 
2004 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2315863
Thon A, Klamroth T, Saalfrank P, Diesing D, Pfeiffer W. Photon-assisted tunneling versus tunneling of excited electrons in metal-insulator-metal junctions. Appl. Phys. A. 2004;78(2):189-199.
PUB | DOI | WoS
 
2004 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2407651
Pfeiffer W, Kennerknecht C, Merschdorf M. Electron dynamics in supported metal nanoparticles: relaxation and charge transfer studied by time-resolved photoemission. Applied Physics A. 2004;78(7):1011-1028.
PUB | DOI | WoS
 
2003 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1610694
Aschentrup A, Hachmann W, Westerwalbesloh T, Lim YC, Kleineberg U, Heinzmann U. Determination of layer-thickness fluctuations in Mo/Si multilayers by cross-sectional HR-TEM and X-ray diffraction. APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING. 2003;77(5):607-611.
PUB | DOI | WoS
 
2002 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1612342
Basler R, Chaboussant G, Andres H, et al. Inelastic neutron scattering on a mixed-valence dodecanuclear polyoxovanadate cluster. APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING. 2002;74:S734-S736.
PUB | DOI | WoS
 
2001 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1618213
Lim YC, Westermalbesloh T, Aschentrup A, et al. Fabrication and characterization of EUV multilayer mirrors optimized for small spectral reflection bandwidth. APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING. 2001;72(1):121-124.
PUB | DOI | WoS
 
2001 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 1616180
Kleineberg U, Haindl G, Hütten A, et al. Microcharacterization of the surface oxidation of Py/Cu multilayers by scanning X-ray absorption spectromicroscopy. APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING. 2001;73(4):515-519.
PUB | DOI | WoS
 
2000 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2407668
Merschdorf M, Pfeiffer W, Thon A, Voll S, Gerber G. Photoemission from multiply excited surface plasmons in Ag nanoparticles. Applied Physics A. 2000;71(5):547-552.
PUB | DOI | WoS
 
1998 | Konferenzbeitrag | Veröffentlicht | PUB-ID: 1624512
Hartwich J, Dreeskornfeld L, Heisig V, et al. STM writing of artificial nanostructures in ultrathin PMMA and SAM resists and subsequent pattern transfer in a Mo/Si multilayer by reactive ion etching. APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING. 1998;66:S685-S688.
PUB | DOI | WoS
 
1993 | Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | PUB-ID: 2356988
LANG HP, THOMMENGEISER V, BOLM C, et al. DETERMINATION OF C-60/C-70 RATIOS IN FULLERENE MIXTURES AND FILM CHARACTERIZATION BY SCANNING TUNNELING MICROSCOPY. Applied Physics A. 1993;56(3):197-205.
PUB | DOI | WoS
 

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