Ambipolar characteristics of microcrystalline silicon thin-film transistors
Chan KY, Gordijn A, Stiebig H, Knipp D (2010)
Physica Status Solidi (c) 7(3-4): 1144-1147.
Zeitschriftenaufsatz
| Veröffentlicht | Englisch
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Autor*in
Chan, K.Y.;
Gordijn, A.;
Stiebig, HelmutUniBi;
Knipp, D.
Erscheinungsjahr
2010
Zeitschriftentitel
Physica Status Solidi (c)
Band
7
Ausgabe
3-4
Seite(n)
1144-1147
ISSN
ARRAY(0x9dc4158)
Page URI
https://pub.uni-bielefeld.de/record/2343874
Zitieren
Chan KY, Gordijn A, Stiebig H, Knipp D. Ambipolar characteristics of microcrystalline silicon thin-film transistors. Physica Status Solidi (c). 2010;7(3-4):1144-1147.
Chan, K. Y., Gordijn, A., Stiebig, H., & Knipp, D. (2010). Ambipolar characteristics of microcrystalline silicon thin-film transistors. Physica Status Solidi (c), 7(3-4), 1144-1147. https://doi.org/10.10002/pssc.200982816
Chan, K.Y., Gordijn, A., Stiebig, Helmut, and Knipp, D. 2010. “Ambipolar characteristics of microcrystalline silicon thin-film transistors”. Physica Status Solidi (c) 7 (3-4): 1144-1147.
Chan, K. Y., Gordijn, A., Stiebig, H., and Knipp, D. (2010). Ambipolar characteristics of microcrystalline silicon thin-film transistors. Physica Status Solidi (c) 7, 1144-1147.
Chan, K.Y., et al., 2010. Ambipolar characteristics of microcrystalline silicon thin-film transistors. Physica Status Solidi (c), 7(3-4), p 1144-1147.
K.Y. Chan, et al., “Ambipolar characteristics of microcrystalline silicon thin-film transistors”, Physica Status Solidi (c), vol. 7, 2010, pp. 1144-1147.
Chan, K.Y., Gordijn, A., Stiebig, H., Knipp, D.: Ambipolar characteristics of microcrystalline silicon thin-film transistors. Physica Status Solidi (c). 7, 1144-1147 (2010).
Chan, K.Y., Gordijn, A., Stiebig, Helmut, and Knipp, D. “Ambipolar characteristics of microcrystalline silicon thin-film transistors”. Physica Status Solidi (c) 7.3-4 (2010): 1144-1147.
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