Thermal effects in pulsed laser assisted scanning tunneling microscopy

Gerstner V, Thon A, Pfeiffer W (2000)
J. Appl. Phys. 87(5): 2574.

Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | Englisch
 
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Autor/in
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Erscheinungsjahr
2000
Zeitschriftentitel
J. Appl. Phys.
Band
87
Ausgabe
5
Seite(n)
2574
ISSN
0021-8979
Page URI
https://pub.uni-bielefeld.de/record/2315928

Zitieren

Gerstner V, Thon A, Pfeiffer W. Thermal effects in pulsed laser assisted scanning tunneling microscopy. J. Appl. Phys. 2000;87(5):2574.
Gerstner, V., Thon, A., & Pfeiffer, W. (2000). Thermal effects in pulsed laser assisted scanning tunneling microscopy. J. Appl. Phys., 87(5), 2574. doi:10.1063/1.372221
Gerstner, V., Thon, A., and Pfeiffer, W. (2000). Thermal effects in pulsed laser assisted scanning tunneling microscopy. J. Appl. Phys. 87, 2574.
Gerstner, V., Thon, A., & Pfeiffer, W., 2000. Thermal effects in pulsed laser assisted scanning tunneling microscopy. J. Appl. Phys., 87(5), p 2574.
V. Gerstner, A. Thon, and W. Pfeiffer, “Thermal effects in pulsed laser assisted scanning tunneling microscopy”, J. Appl. Phys., vol. 87, 2000, pp. 2574.
Gerstner, V., Thon, A., Pfeiffer, W.: Thermal effects in pulsed laser assisted scanning tunneling microscopy. J. Appl. Phys. 87, 2574 (2000).
Gerstner, V., Thon, A., and Pfeiffer, Walter. “Thermal effects in pulsed laser assisted scanning tunneling microscopy”. J. Appl. Phys. 87.5 (2000): 2574.