Characterization of nanowires with the low energy electron point source (LEEPS) microscope

Beyer A, Weber DH, Völkel B, Gölzhäuser A (2010)
Physica Satus Solidi B 247(10): 2550-2556.

Zeitschriftenaufsatz | Veröffentlicht | Englisch
 
Download
Es wurden keine Dateien hochgeladen. Nur Publikationsnachweis!
DOI
Autor*in
Beyer, AndréUniBi ; Weber, Dirk Henning; Völkel, BertholdUniBi; Gölzhäuser, ArminUniBi
Einrichtung
Centrum für Biotechnologie > Institut für Biophysik und Nanowissenschaften
Centrum für Biotechnologie > Arbeitsgruppe A. Gölzhäuser
Fakultät für Physik > AG Physik supramolekularer Systeme und Oberflächen
Erscheinungsjahr
2010
Zeitschriftentitel
Physica Satus Solidi B
Band
247
Ausgabe
10
Seite(n)
2550-2556
ISSN
0370-1972
Page URI
https://pub.uni-bielefeld.de/record/1904656

Zitieren

Beyer A, Weber DH, Völkel B, Gölzhäuser A. Characterization of nanowires with the low energy electron point source (LEEPS) microscope. Physica Satus Solidi B. 2010;247(10):2550-2556.
Beyer, A., Weber, D. H., Völkel, B., & Gölzhäuser, A. (2010). Characterization of nanowires with the low energy electron point source (LEEPS) microscope. Physica Satus Solidi B, 247(10), 2550-2556. https://doi.org/10.1002/pssb.201046260
Beyer, André, Weber, Dirk Henning, Völkel, Berthold, and Gölzhäuser, Armin. 2010. “Characterization of nanowires with the low energy electron point source (LEEPS) microscope”. Physica Satus Solidi B 247 (10): 2550-2556.
Beyer, A., Weber, D. H., Völkel, B., and Gölzhäuser, A. (2010). Characterization of nanowires with the low energy electron point source (LEEPS) microscope. Physica Satus Solidi B 247, 2550-2556.
Beyer, A., et al., 2010. Characterization of nanowires with the low energy electron point source (LEEPS) microscope. Physica Satus Solidi B, 247(10), p 2550-2556.
A. Beyer, et al., “Characterization of nanowires with the low energy electron point source (LEEPS) microscope”, Physica Satus Solidi B, vol. 247, 2010, pp. 2550-2556.
Beyer, A., Weber, D.H., Völkel, B., Gölzhäuser, A.: Characterization of nanowires with the low energy electron point source (LEEPS) microscope. Physica Satus Solidi B. 247, 2550-2556 (2010).
Beyer, André, Weber, Dirk Henning, Völkel, Berthold, and Gölzhäuser, Armin. “Characterization of nanowires with the low energy electron point source (LEEPS) microscope”. Physica Satus Solidi B 247.10 (2010): 2550-2556.
Export

Markieren/ Markierung löschen
Markierte Publikationen

Open Data PUB

Web of Science

Dieser Datensatz im Web of Science®
Suchen in

Google Scholar