Maximum penalized likelihood estimation in semiparametric mark-recapture-recovery models

Michelot T, Langrock R, Kneib T, King R (2015)
Biometrical Journal 58(1): 222-239.

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Zeitschriftentitel
Biometrical Journal
Band
58
Zeitschriftennummer
1
Seite
222-239
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Michelot T, Langrock R, Kneib T, King R. Maximum penalized likelihood estimation in semiparametric mark-recapture-recovery models. Biometrical Journal. 2015;58(1):222-239.
Michelot, T., Langrock, R., Kneib, T., & King, R. (2015). Maximum penalized likelihood estimation in semiparametric mark-recapture-recovery models. Biometrical Journal, 58(1), 222-239. doi:10.1002/bimj.201400222
Michelot, T., Langrock, R., Kneib, T., and King, R. (2015). Maximum penalized likelihood estimation in semiparametric mark-recapture-recovery models. Biometrical Journal 58, 222-239.
Michelot, T., et al., 2015. Maximum penalized likelihood estimation in semiparametric mark-recapture-recovery models. Biometrical Journal, 58(1), p 222-239.
T. Michelot, et al., “Maximum penalized likelihood estimation in semiparametric mark-recapture-recovery models”, Biometrical Journal, vol. 58, 2015, pp. 222-239.
Michelot, T., Langrock, R., Kneib, T., King, R.: Maximum penalized likelihood estimation in semiparametric mark-recapture-recovery models. Biometrical Journal. 58, 222-239 (2015).
Michelot, Théo, Langrock, Roland, Kneib, Thomas, and King, Ruth. “Maximum penalized likelihood estimation in semiparametric mark-recapture-recovery models”. Biometrical Journal 58.1 (2015): 222-239.

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Semi-Markov Arnason-Schwarz models.
King R, Langrock R., Biometrics 72(2), 2016
PMID: 26584064

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PMID: 26289495
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