Miniature Robot BeBot: Mechatronic Test Platform for Self-X Properties

Gausemeier J, Schierbaum T, Dumitrescu R, Herbrechtsmeier S, Jungmann A (2011)
In: Proceedings of the 9th IEEE International Conference on Industrial Informatics (INDIN). IEEE: 101-112.

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Proceedings of the 9th IEEE International Conference on Industrial Informatics (INDIN)
Seite
101-112
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Gausemeier J, Schierbaum T, Dumitrescu R, Herbrechtsmeier S, Jungmann A. Miniature Robot BeBot: Mechatronic Test Platform for Self-X Properties. In: Proceedings of the 9th IEEE International Conference on Industrial Informatics (INDIN). IEEE; 2011: 101-112.
Gausemeier, J., Schierbaum, T., Dumitrescu, R., Herbrechtsmeier, S., & Jungmann, A. (2011). Miniature Robot BeBot: Mechatronic Test Platform for Self-X Properties. Proceedings of the 9th IEEE International Conference on Industrial Informatics (INDIN), 101-112. doi:10.1007/978-3-642-27482-4_12
Gausemeier, J., Schierbaum, T., Dumitrescu, R., Herbrechtsmeier, S., and Jungmann, A. (2011). “Miniature Robot BeBot: Mechatronic Test Platform for Self-X Properties” in Proceedings of the 9th IEEE International Conference on Industrial Informatics (INDIN) (IEEE), 101-112.
Gausemeier, J., et al., 2011. Miniature Robot BeBot: Mechatronic Test Platform for Self-X Properties. In Proceedings of the 9th IEEE International Conference on Industrial Informatics (INDIN). IEEE, pp. 101-112.
J. Gausemeier, et al., “Miniature Robot BeBot: Mechatronic Test Platform for Self-X Properties”, Proceedings of the 9th IEEE International Conference on Industrial Informatics (INDIN), IEEE, 2011, pp.101-112.
Gausemeier, J., Schierbaum, T., Dumitrescu, R., Herbrechtsmeier, S., Jungmann, A.: Miniature Robot BeBot: Mechatronic Test Platform for Self-X Properties. Proceedings of the 9th IEEE International Conference on Industrial Informatics (INDIN). p. 101-112. IEEE (2011).
Gausemeier, Jürgen, Schierbaum, Thomas, Dumitrescu, Roman, Herbrechtsmeier, Stefan, and Jungmann, Alexander. “Miniature Robot BeBot: Mechatronic Test Platform for Self-X Properties”. Proceedings of the 9th IEEE International Conference on Industrial Informatics (INDIN). IEEE, 2011. 101-112.

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