Thermal effects in pulsed laser assisted scanning tunneling microscopy

Gerstner V, Thon A, Pfeiffer W (2000)
J. Appl. Phys. 87(5): 2574.

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Zeitschriftentitel
J. Appl. Phys.
Band
87
Zeitschriftennummer
5
Seite
2574
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Gerstner V, Thon A, Pfeiffer W. Thermal effects in pulsed laser assisted scanning tunneling microscopy. J. Appl. Phys. 2000;87(5):2574.
Gerstner, V., Thon, A., & Pfeiffer, W. (2000). Thermal effects in pulsed laser assisted scanning tunneling microscopy. J. Appl. Phys., 87(5), 2574. doi:10.1063/1.372221
Gerstner, V., Thon, A., and Pfeiffer, W. (2000). Thermal effects in pulsed laser assisted scanning tunneling microscopy. J. Appl. Phys. 87, 2574.
Gerstner, V., Thon, A., & Pfeiffer, W., 2000. Thermal effects in pulsed laser assisted scanning tunneling microscopy. J. Appl. Phys., 87(5), p 2574.
V. Gerstner, A. Thon, and W. Pfeiffer, “Thermal effects in pulsed laser assisted scanning tunneling microscopy”, J. Appl. Phys., vol. 87, 2000, pp. 2574.
Gerstner, V., Thon, A., Pfeiffer, W.: Thermal effects in pulsed laser assisted scanning tunneling microscopy. J. Appl. Phys. 87, 2574 (2000).
Gerstner, V., Thon, A., and Pfeiffer, Walter. “Thermal effects in pulsed laser assisted scanning tunneling microscopy”. J. Appl. Phys. 87.5 (2000): 2574.