Preparation and microstructure analysis of Mo/Si multilayers as x-ray optical components

Kloidt A, Stock HJ, Kleineberg U, Döhring T, Pröpper M, Rahn S, Hilgers K, Heidemann B, Tappe T, Schmiedeskamp B, Heinzmann U (1993)
In: Proceedings of Symposium on Surface Science 1993. Varga P (Ed); Wien: HTU Druck: 115.

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Proceedings of Symposium on Surface Science 1993
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115
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Kloidt A, Stock HJ, Kleineberg U, et al. Preparation and microstructure analysis of Mo/Si multilayers as x-ray optical components. In: Varga P, ed. Proceedings of Symposium on Surface Science 1993. Wien: HTU Druck; 1993: 115.
Kloidt, A., Stock, H. J., Kleineberg, U., Döhring, T., Pröpper, M., Rahn, S., Hilgers, K., et al. (1993). Preparation and microstructure analysis of Mo/Si multilayers as x-ray optical components. In P. Varga (Ed.), Proceedings of Symposium on Surface Science 1993 (p. 115). Wien: HTU Druck.
Kloidt, A., Stock, H. J., Kleineberg, U., Döhring, T., Pröpper, M., Rahn, S., Hilgers, K., Heidemann, B., Tappe, T., Schmiedeskamp, B., et al. (1993). “Preparation and microstructure analysis of Mo/Si multilayers as x-ray optical components” in Proceedings of Symposium on Surface Science 1993, Varga, P. ed. (Wien: HTU Druck), 115.
Kloidt, A., et al., 1993. Preparation and microstructure analysis of Mo/Si multilayers as x-ray optical components. In P. Varga, ed. Proceedings of Symposium on Surface Science 1993. Wien: HTU Druck, pp. 115.
A. Kloidt, et al., “Preparation and microstructure analysis of Mo/Si multilayers as x-ray optical components”, Proceedings of Symposium on Surface Science 1993, P. Varga, ed., Wien: HTU Druck, 1993, pp.115.
Kloidt, A., Stock, H.J., Kleineberg, U., Döhring, T., Pröpper, M., Rahn, S., Hilgers, K., Heidemann, B., Tappe, T., Schmiedeskamp, B., Heinzmann, U.: Preparation and microstructure analysis of Mo/Si multilayers as x-ray optical components. In: Varga, P. (ed.) Proceedings of Symposium on Surface Science 1993. p. 115. HTU Druck, Wien (1993).
Kloidt, A., Stock, H.J., Kleineberg, U., Döhring, T., Pröpper, M., Rahn, S., Hilgers, K., Heidemann, B., Tappe, T., Schmiedeskamp, B., and Heinzmann, Ulrich. “Preparation and microstructure analysis of Mo/Si multilayers as x-ray optical components”. Proceedings of Symposium on Surface Science 1993. Ed. P. Varga. Wien: HTU Druck, 1993. 115.

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