Aperiodic nanometer multilayer systems as optical key components for attosecond electron spectroscopy

Wonisch A, Westerwalbesloh T, Hachmann W, Kabachnik NM, Kleineberg U, Heinzmann U (2004)
Thin Solid Films 464-465 464-465: 473-477.

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Thin Solid Films 464-465
Band
464-465
Seite
473-477
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Wonisch A, Westerwalbesloh T, Hachmann W, Kabachnik NM, Kleineberg U, Heinzmann U. Aperiodic nanometer multilayer systems as optical key components for attosecond electron spectroscopy. Thin Solid Films 464-465. 2004;464-465:473-477.
Wonisch, A., Westerwalbesloh, T., Hachmann, W., Kabachnik, N. M., Kleineberg, U., & Heinzmann, U. (2004). Aperiodic nanometer multilayer systems as optical key components for attosecond electron spectroscopy. Thin Solid Films 464-465, 464-465, 473-477. doi:10.1016/j.tsf.2004.06.040
Wonisch, A., Westerwalbesloh, T., Hachmann, W., Kabachnik, N. M., Kleineberg, U., and Heinzmann, U. (2004). Aperiodic nanometer multilayer systems as optical key components for attosecond electron spectroscopy. Thin Solid Films 464-465 464-465, 473-477.
Wonisch, A., et al., 2004. Aperiodic nanometer multilayer systems as optical key components for attosecond electron spectroscopy. Thin Solid Films 464-465, 464-465, p 473-477.
A. Wonisch, et al., “Aperiodic nanometer multilayer systems as optical key components for attosecond electron spectroscopy”, Thin Solid Films 464-465, vol. 464-465, 2004, pp. 473-477.
Wonisch, A., Westerwalbesloh, T., Hachmann, W., Kabachnik, N.M., Kleineberg, U., Heinzmann, U.: Aperiodic nanometer multilayer systems as optical key components for attosecond electron spectroscopy. Thin Solid Films 464-465. 464-465, 473-477 (2004).
Wonisch, Andreas, Westerwalbesloh, Thomas, Hachmann, Wiebke, Kabachnik, Nikolay M., Kleineberg, Ulf, and Heinzmann, Ulrich. “Aperiodic nanometer multilayer systems as optical key components for attosecond electron spectroscopy”. Thin Solid Films 464-465 464-465 (2004): 473-477.